- ITC (International Test Conference) 論文：英日
- ロジックテスタークイックマニュアル：英日
- ITプロジェクトマネージメントガイド：日英
- EDAツール取扱い説明書：英日
- ICテスト・ハンドラ 取り扱い説明書：日英
- EDAツール開発設計ドキュメント：英日
- 組み込みソフトウェア開発向けユーザーマニュアル：日英
- コーディング規約：日英
- ソフトウェアテスティングガイド：日英
- Make ガイドライン：日英
- リファクタリングガイド：日英
- 電子カルテ ソフトウェア設計仕様書：英日
- ISO導入ガイド：日英
- 真空システム用機器カタログ：日英
- 蓄電池 教材：日英
- 品質不具合報告書：日英
- 半導体試験装置論文 ：日英
- 半導体検査装置RFテストモジュール仕様書：日英
- 紫外線照射装置仕様書：日英
- 電気自動車研究業務報告書：日英
- プロジェクトマネージメント支援ガイド：日英
- 取引ガイドライン・契約書：日英
- 機械系・電気系CADデータ変換ツールマニュアル：英日
- SEMI ドキュメント：英日
- サーバー実装仕様書：日英
- 特許明細書「集光光学系」：英日
- UPS 取扱説明書：英日
- プローブカード・DUTボード設計プレゼン：日本語リライト
- スマートフォン取り扱い説明書：日英
- シリアルペリフェラルインタフェース（RSPI）IP仕様書：日英
- ソフトウェアリファクタリング設計手法：日英
- 半導体プロセス論文：ネイティブチェック
- クラウドベース BD / DRソリューション製品プレゼンテーション：英日
- 車載ＥＭＣ設計（プレゼンテーション）：日英
- 半導体学会発表の原稿：ネイティブチェック
- 医療向けクラウドソリューション（ホワイトペーパー）：英日
- パワーデバイス・アプリケーションノート：日英
- マスク検査装置・画像処理仕様書：日英
- 検査装置ユーザーインターフェース：日英
- 外観検査テーピング機 仕様書：日英
- データ分析ソリューション ホワイトペーパー/マニュアル：英日
- アマゾン ウェブ サービス（AWS）オンラインマニュアルローカライズ：英日
- Intel ホワイトペーパー：英日
- Microsoft SQL インストールマニュアル：英日
- 電流プローブ 取扱説明書：英文クロスチェック＆リライト
- 電気二重層キャパシタ 製造仕様書：日英
- 車載用画像認識プロセッサ データシート：日英
- フォトマスク検査装置 ユーザーマニュアル：英日
- ウェハ検査装置 ユーザーマニュアル：日英
